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產(chǎn)品詳細(xì)頁(yè)低本底多道γ能譜儀
簡(jiǎn)要描述:HD-WF300型低本底多道γ能譜儀采用低本底鉛室及低鉀NaI(Tl)探頭實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)樣品的放射性測(cè)量,基于高性能數(shù)字化能譜儀實(shí)現(xiàn)對(duì)NaI(Tl)探頭的高精度伽馬能譜測(cè)量,通過(guò)上位機(jī)能譜測(cè)量與分析軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)能譜的采集、存儲(chǔ)、處理與解譜分析,最終實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)樣品中放射性核素的識(shí)別與放射性比活度的測(cè)量。
- 產(chǎn)品型號(hào):HD-WF300
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-09-21
- 訪 問(wèn) 量:762
產(chǎn)品介紹
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
HD-WF300型低本底多道γ能譜儀采用低本底鉛室及低鉀NaI(Tl)探頭實(shí)現(xiàn)對(duì)待檢測(cè)樣品的放射性測(cè)量,基于高性能數(shù)字化能譜儀實(shí)現(xiàn)對(duì)NaI(Tl)探頭的高精度伽馬能譜測(cè)量,通過(guò)上位機(jī)能譜測(cè)量與分析軟件實(shí)現(xiàn)對(duì)能譜的采集、存儲(chǔ)、處理與解譜分析,最終實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)樣品中放射性核素的識(shí)別與放射性比活度的測(cè)量。低本底多道γ能譜儀包括低本底鉛室、低本底NaI(Tl)伽馬輻射探頭、高性能桌面式數(shù)字化能譜儀、伽馬能譜測(cè)量與解譜軟件組成。具備的自動(dòng)穩(wěn)譜技術(shù),可保證長(zhǎng)期連續(xù)工作穩(wěn)定性和測(cè)量精度。
二、應(yīng)用領(lǐng)域
醫(yī)院放射性核素γ能譜測(cè)量分析;
建材、土壤、生物、地質(zhì)樣品等γ能譜測(cè)量分析;
建筑材料的快速無(wú)損檢測(cè);
鈾礦地質(zhì)樣品鐳(鈾)、釷、鉀含量分析;
可按用戶要求配備鈾、銫、鈷、碘等人工核素分析軟件。
三、系統(tǒng)組成
1、低本底鉛室;
2、低本底NaI(Tl)伽馬輻射探頭(探測(cè)器可選配溴化鑭或高純鍺);
3、高性能桌面式數(shù)字化能譜儀;
4、伽馬能譜測(cè)量與解譜軟件。
四、功能特點(diǎn)
1、具備實(shí)時(shí)快速低能γ射線穩(wěn)譜技術(shù)的低本底數(shù)字化能譜儀,可保證開(kāi)機(jī)快速測(cè)量以及長(zhǎng)期穩(wěn)定性;傳統(tǒng)低本底數(shù)字化能譜儀需要人工反復(fù)調(diào)整譜儀參數(shù)才能夠工作,且無(wú)法長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定工作;
2、自帶數(shù)字化穩(wěn)譜功能,可選擇本底镅源γ射線穩(wěn)譜、天然特征峰穩(wěn)譜等數(shù)字化穩(wěn)譜方式;
3、支持粒子圖譜、能譜曲線、梯形成形信號(hào)與原始脈沖信號(hào)顯示;
4、數(shù)字化能譜儀具備LIST-MODE模式,可實(shí)現(xiàn)粒子事件信息(時(shí)間、位置、幅度等)的實(shí)時(shí)采集,各通道數(shù)字化譜儀具備時(shí)鐘同步功能,同步精度不低于15ns;粒子事件信息可傳輸?shù)接?jì)算機(jī)上成譜,從而滿足快速移動(dòng)測(cè)量的要求;
5、雙譜測(cè)量:支持能譜與時(shí)間譜測(cè)量;
6、高分辨率:采用16位80MSPS高速高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器;
7、高數(shù)字成形頻率:數(shù)字成形頻率高達(dá)80MHz;
8、多通道輸入:8路符合\反符合輸入及一路高速外部時(shí)鐘同步輸入;
9、全波采集,無(wú)脈沖漏計(jì),具有基線修正、干擾識(shí)別等智能化功能,PMT輸出信號(hào)直通,10、波形無(wú)畸變,將Cs峰放在測(cè)量范圍的任意道址都能測(cè)得一致的分辨率;
11、最高數(shù)據(jù)通過(guò)率:>500kcps(1us成形時(shí)間),高速傳輸,數(shù)據(jù)無(wú)漏計(jì);
12、可視化測(cè)量顯示,具有信號(hào)波形、基線在線監(jiān)測(cè)及測(cè)量結(jié)果實(shí)時(shí)分析等功能;
13、具有峰位監(jiān)測(cè)功能,保證數(shù)據(jù)采集質(zhì)量;
14、特征譜段綜合分析解譜,全譜檢驗(yàn)、多譜線對(duì)比等功能,可用于科研、教學(xué)及技術(shù)培訓(xùn)等。
五、技術(shù)指標(biāo)
探測(cè)器:Φ50×50mmNaI(Tl)晶體;
總道數(shù):512、1024、2048、4096、8192、16384道任選,標(biāo)準(zhǔn)道數(shù):2048道;
能量分辨率:<7.5%(137Cs);
儀器本底:≤4.5cps(50kev~3Mev);
微分非線性:<0.05%;
積分非線性:<0.10%;
穩(wěn)定性:相對(duì)誤差≤1.0%(24h);
脈沖對(duì)分辨率:450ns;
儀器檢出限:226Ra:8.0Bg/kg;232Th:6.0Bg/kg;40K:20.0Bg/kg;
最高數(shù)據(jù)通過(guò)率:≥500kcps(1us成形時(shí)間);
測(cè)量不確定度(樣品放射性活度>37Bq/kg):<10%;
電源:220V(±10%)50Hz;
溫度范圍:+5℃~+40℃;
相對(duì)濕度:≤90%;